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RISE™-300 네이티브 산화막 제거용 배치식 시스템
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RISE™-300 네이티브 산화막 제거용 배치식 시스템
첨단 반도체의 협폭·심층 콘택트 구조에서 네이티브 산화막을 제거하기 위한 배치식 화학 건식 세정 시스템
특징
저손상 공정:
Remote Plasma 및 저온 공정 적용
높은 처리량 및 낮은 CoO(Cost of Ownership)
50매 웨이퍼 배치 처리
높은 식각 균일도:
배치당
5% 이하
유지보수가 용이한 구조
클러스터형 장비 대비 작은 설치 면적
Self-Aligned Contact 저저항 구현:
기존 습식 공정 대비
접촉 저항 50% 이상 감소
최소화된 장비 설치 면적
응용 분야
SAC(Self-Aligned Contact) 형성을 위한 사전 세정
커패시터 형성을 위한 사전 세정
에피택셜 성장(Epitaxial Growth)을 위한 사전 세정
사양
Model
RISE
TM
-300
Plasma Source
Microwave Power Supply
Configuration
EFEM + LL + PM
Wafer Size
300mm diameter
Wafer Stage
Ceramic Board (50 wafers/batch)
Pumping System
Etching Module:Mechanical booster pump +DRP
Control System
FAPC+TFT Touch Panel
Gas Supply
3 lines
Application
Pretreatment for SAC, Capacitor, Epitaxial growth