uGmni는 하나의 공통 이송 코어에 다양한 프로세스 모듈을 구성하고, 가능한 한 동일한 공용 부품을 최대한 활용하여 교체 부품을 최소화할 수 있습니다. 또한 각 프로세스 모듈 간 동일한 제어 패널을 사용함으로써 조작 편의성을 향상시킵니다. 이를 통해 첨단 전자 소자 생산 공정의 효율성을 더욱 향상시킬 수 있습니다.
특징
Sputter, Etcher, Asher 및 PE-CVD 등 다양한 프로세스 모듈을 구성할 수 있습니다.
모든 프로세스 모듈은 ULVAC에서 자체 개발 및 제작합니다.
최대 Φ300 mm 웨이퍼에 대응할 수 있습니다.
적용 분야
적용 사례(예시)
전력 소자: Seed 층 및 스퍼터링 금속층
MEMS 센서: PZT 스퍼터링 및 에칭
광학 소자: VCSEL 에칭
패키징: 디스컴(Descum) 애싱
통신: 절연막 PE-CVD 및 에칭
사양
※ 상기 항목뿐만 아니라 기타 요구사항이 있는 경우에도 문의해 주시기 바랍니다. 아래 수치는 표준 사양을 기준으로 합니다.
Ultimate pressure
Stage temp.
Within wafer unif. (Ref. only)
Use
Plasma source
Sputter
<6.7E-5Pa
Cold(Cooling ability T.B.D)~700℃
±1~5%
Metal, dielectric film, insulated film
DC
Pulse DC
RF
Etcher
<1.0E-3Pa
-20~200℃
<±5%
Metal, dielectric film, insulated film, Si types
CCP
ISM (Inductively Super Magnetron、ULVAC Patent)
NLD (Neutral Loop Discharge、ULVAC Patent)
Asher
<0.7Pa
50~250℃
±5%
Descum, desmear, removing sacrified layer, surface treatment, removing PR and PI etch